采用国产高端X‑Ray设备，分辨率达0.5µm，确保每个细节无所遁形。
从外观、功能到失效机理，全链路检测，提供完整报告。
极速定位失效根因，缩短研发周期，降低成本。
“创芯的X‑Ray检测速度快、精度高，帮助我们在量产前及时发现隐藏缺陷，极大提升了产品品质。”
“失效分析报告专业详细，大幅缩短了我们研发的调试时间，值得长期合作。”
“从外观到内部结构全方位检测，让我们对供应链的元件质量有了更强的信心。”
深圳市创芯在线检测服务有限公司专注于元器件X‑Ray检测、电子元器件检测以及失效分析。我们拥有先进的检测设备和经验丰富的技术团队，能够为客户提供高精度、高效率的检测服务。
无论是IC、传感器、功率器件还是其他电子元件，创芯都能提供完整的X‑Ray影像、内部结构分析以及失效根因检测，让您的产品在上市前得到最严苛的质量把关。
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