支持 MCU、MEMS、AI、指纹、安全、存储、触控、车规级等上千种芯片。
提供长时间 Burn‑in 测试，确保芯片长期可靠运行。
覆盖 -55°C~+150°C 全温段，精准温度曲线分析。
高速批量测试平台，满足大规模生产交付需求。
“利扬的低温验证让我们的车规级芯片在极端环境下表现稳定，交付时间也比预期提前。”
华为汽车业务部
“Burn‑in 测试的完整性让我们对AI芯片的可靠性充满信心，合作极其顺畅。”
科大讯飞 AI平台
“从MEMS传感器到指纹芯片，利扬一次性完成全部测试，极大降低了项目成本。”
中兴通讯研发中心
广东利扬芯片测试股份有限公司专注于芯片的全流程测试服务，包括 Burn‑in、低温高温验证、功能测试及量产测试。我们拥有完备的测试平台，能够为 MCU、MEMS、AI 以及车规级芯片提供精准、快捷的测试方案，帮助客户加速产品研发、提升可靠性。
我们的优势在于覆盖上千种芯片类型，提供从单颗样品到大批量产品的全链路检测。通过专业的高低温测试与分析，确保每一颗芯片在极端环境下均能稳定工作，实现客户对产品质量的严格要求。
无论是新产品研发阶段的功能验证，还是量产阶段的可靠性验证，广东利扬都能提供定制化的测试方案，帮助企业缩短上市时间、降低成本，并提升市场竞争力。立即填写表单获取专业报价与技术支持！