高精度光学测厚与参数测量解决方案

非接触、无损、快速,为半导体、光学薄膜、显示面板等行业提供专业检测设备。

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核心优势

高精度测量

采用白光干涉技术,实现纳米级测量精度,误差<0.01%

非接触无损

光学检测不接触样品,保护薄膜完整性,适用于高价值产品。

快速便捷

即时测量,数据自动输出,提升生产线效率。

客户信任与好评

“白光干涉膜厚仪的测量速度和精度大幅提升了我们生产线的良率。”

— 某半导体企业技术主管

“手持式曲面薄膜测厚仪让现场检测变得轻松,真正实现了无接触检测。”

— 某光伏组件厂家质量工程师

“折射率/吸收率测量系统的稳定性让我们在研发阶段更有信心。”

— 某显示面板研发负责人

常见问题

Q1:设备是否支持不同基材的测量?

A1:我们的仪器采用宽波段光源,兼容玻璃、塑料、金属等多种基材,无需更换探头。

Q2:测量结果可以直接导出吗?

A2:支持 CSV、Excel、PDF 多种格式导出,也可通过 API 与MES系统对接。

Q3:手持式设备的电池续航如何?

A3:内置高容量锂电池,连续测量可达8小时,配备快速充电功能。

Q4:仪器的维护成本高吗?

A4:光学元件采用自清洁技术,日常维护仅需简单校准,保养成本低。

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苏州悉识科技专业提供光学测厚白光干涉膜厚仪折射率/吸收率/消光系数测量系统,广泛应用于半导体、光学薄膜、显示面板、光伏、电池、眼镜及汽车等领域。

我们的弯曲表面(曲面)膜厚仪能够精准测量非平面基材,解决传统平面仪器难以覆盖的检测痛点;手持式曲面薄膜测厚仪则兼具便携与高精度,为现场快速检测提供可靠支持。

选择悉识科技,即可享受非接触、无损、快速、自动化的光学检测体验,提升产品质量与生产效率,助力企业在激烈竞争中保持技术领先。